短暂性脑缺血发作患者短期发生脑梗死的危险因素分析

被引：32

作者：

王志红

刘宏顺

张祥建

芮汉臣

夏红

机构：

[1] 河北医科大学第二医院神经内科

来源：

脑与神经疾病杂志 | 2010年 / 18卷 / 06期

关键词：

短暂性脑缺血发作; 脑梗死; 危险因素; 磁共振血管成像;

D O I：

暂无

中图分类号：

R743.32 [脑血栓形成];

学科分类号：

1002 ;

摘要：

目的分析短暂性脑缺血发作(TIA)患者7d和30d内进展为脑梗死的危险因素。方法以119例住院TIA患者为研究对象,收集其临床资料和磁共振血管成像(MRA)结果,并按Johnston提出的7分"ABCD2"评分法给予评分,随访发生TIA后7d和30d内脑梗死的发生率。结果 TIA发生后50例(42.0%)患者于30d内发生脑梗死,其中29例(24.4%)发生于7d内。Logistic回归分析发现,症状持续时间≥10min、ABCD2评分≥4分是TIA后7d发生脑梗死的独立危险因素;发作次数≥3次、颅内动脉狭窄≥50%是TIA后30d发生脑梗死的独立危险因素。抗凝治疗是TIA进展为脑梗死的保护因素。结论发作持续时间长、次数多、颅内动脉狭窄重和"ABCD2"评分高的TIA患者短期内脑梗死发生危险性较高,抗凝治疗可使TIA患者有降低脑梗死发生的风险性。

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页码：458 / 461

页数：4

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