精加工零件尺寸视觉检测中的亚像素定位分析

被引：5

作者：

王宇华

彭明仔

程湘

机构：

[1] 佛山科学技术学院机电与信息工程学院

来源：

纳米技术与精密工程 | 2006年 / 04期

关键词：

视觉检测; 亚像素; 尺寸测量; 菲涅耳衍射;

D O I：

10.13494/j.npe.2006.057

中图分类号：

TP274.4 [];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 080402 ; 081002 ; 0835 ;

摘要：

使用CCD成像的机器视觉系统进行精加工零件尺寸检测时,图像轮廓边缘的亚像素定位分析是决定测量精度的一个重要因素.为了寻求精加工零件图像轮廓边缘的亚像素定位分析依据和计算方法,运用菲涅耳直边衍射理论研究了几何边缘在CCD检测图像中由衍射所形成的灰度分布,理论分析和实验测量都证实了衍射和摄像参数是产生和影响图像边缘灰度分布的主要因素.文中给出了基于衍射的精加工尺寸边缘图像检测时的亚像素定位分析依据和计算方法,对量块进行了对比检测实验,实验结果证实了所给方法的合理性和可行性.

引用

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