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采样控制系统中线性二次型最优控制器的设计
被引:6
作者
:
孙增圻
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
清华大学
孙增圻
机构
:
[1]
清华大学
来源
:
自动化学报
|
1983年
/ 03期
关键词
:
采样控制系统;
线性二次型最优控制器;
采样间隔;
D O I
:
10.16383/j.aas.1983.03.005
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
在计算机控制系统中,受控对象是连续的,相应的二次型性能指标函数也是连续函数,而控制器则由于计算机的参与而属离散型。本文给出了这种采样控制系统的线性二次型最优设计的一整套算法。计算的关键在于性能函数及对象模型的离散化。本文导出了离散化的公式及适合计算机计算的算法,同时也给出了用于采样周期加倍时的计算公式,从而保证了计算机可按该算法及相应的计算程序可靠地运行。最后举例说明了这套算法的应用。
引用
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页码:191 / 198
页数:8
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