TPC-I3-体系间接光度法测量痕量Se（Ⅳ）

被引：5

作者：

闫永胜

洪军

于雅丽

谭振江

李春香

张焕祯

机构：

[1] 四平师范学院化学系

[2] 河北轻工学院

来源：

关键词：

I3-; 间接光度法; 氯化十四烷基吡啶TPC; 吸光度;

D O I：

暂无

中图分类号：

O657.3 [光化学分析法（光谱分析法）];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

提出了表面活性剂TPC存在下I3-间接光度法测定痕量硒方法。方法灵敏度高（ε=1.14×10～6）,除铁外其它离子基本无干扰,选择性好,测定含Se（Ⅳ）2.0μg样品10次,RSD=3.9％,精密度理想,适于生物样品及水样中Se（Ⅳ）测定,结果令人满意。

引用

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