基于DSP的存储器测试系统

被引：3

作者：

高剑

刘明亮

机构：

[1] 北京工业大学电子信息与控制工程学院

[2] 北京工业大学电子信息与控制工程学院北京

[3] 北京

来源：

关键词：

存储器测试; 数字信号处理器; 图形发生器;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN407 [测试和检验];

学科分类号：

080903 ; 1401 ;

摘要：

介绍了以AD公司推出的高速浮点DSP-TS101为设计平台的存储器测试用图形发生器的原理和实现方法,详细地分析、研究了高速测试存储器的软件、硬件.本测试系统突破了传统测试方法的限制,具有结构紧凑、编程灵活的特点,其测试速度超过了国内存储器测试用图形发生器40MHz的最高速度.

引用

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