用线阵CCD测量颗粒尺寸分布的研究

线阵CCD器件的应用已相当广泛 ,文中介绍了一种以线阵CCD为接受器件的颗粒尺寸分布测量新方法。基于群体粒子的衍射理论 ,一般采用以环形光电管 (SSPD)为接受器件、以矩阵迭代为反演手段的测量方法 ;而我们采用了以线阵CCD为接受器件、以shifrin变换为反演手段的新方法 ,线阵CCD能在小的衍射角范围内获取大量的数据 ,这为我们反演的准确和测量精度的提高提供了有力的保障。对几微米以上的实际样品测试实验表明 :与目前以SSPD为接受器件的测量方法相比 ,峰值粒径测量的精度有所提高 ,其相对误差在 3%左右 ,且该法仅需要很少的预知信息 ,此外测量的结果更为详细。