VLSI可测性设计研究

被引：6

作者：

杜俊

赵元富

机构：

[1] 航天时代电子公司研究院微电子技术研究部

[2] 航天时代电子公司研究院微电子技术研究部北京

[3] 北京

来源：

关键词：

可测性设计; 自动测试生成; 扫描设计; 边界扫描技术; 嵌入式自测试; 测试外壳; 模拟测试总线;

D O I：

10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2004.10.052

中图分类号：

TN402 [设计];

学科分类号：

080903 ; 1401 ;

摘要：

从可测性设计与VLSI测试、VLSI设计之间的关系出发,将与可测性设计相关的VLSI测试方法学、设计方法学的内容有机地融合在一起。文中简要地介绍了VLSI可测性设计的理论基础和技术种类,简明地评述了可测性设计的现状和发展趋势,并且探讨了可测性设计的实现方法。

引用

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