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不同接地方式的卫星介质深层充电研究
被引：32
作者：
黄建国
陈东
机构：
[1] 中国科学院空间研究中心
[2] 中国科学院空间研究中心 北京
[3] 北京
来源：
关键词：
卫星;
介质深层充电;
高能电子;
D O I：
暂无
中图分类号：
V419 [相关学科的应用];
学科分类号：
08 ;
0825 ;
摘要：
计算了几种典型的接地方式下卫星介质构件中深层充电所致的最大电场及表面电位 ,并进行比较分析 .结果表明 ,在同样的辐射环境条件下 ,正面接地及两面同时接地时平板介质构件中最大电场比背面接地时低一个量级以上 ,因此前两种接地方式中介质相对较安全 ;单面接地时被充电介质与相邻金属部件或接地物体之间存在放电的可能 ,而两面同时接地时则不会发生 .
引用
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页码：1611 / 1616
页数：6
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