面形测量中相关拼接模型的精确求解方法

被引：1

作者：

李国培

于瀛洁

陈明仪

机构：

[1] 上海大学(延长校区)机自学院精密机械工程系!上海,上海大学(延长校区)机自学院精密机械工程系!上海,上海大学(延长校区)机自学院精密机械工程系!上海

来源：

仪器仪表学报 | 2001年 / S1期

关键词：

相关拼接技术; 面形测量; 模型求解; 迭代最小二乘法;

D O I：

10.19650/j.cnki.cjsi.2001.s1.017

中图分类号：

TH744.3 [];

学科分类号：

0803 ;

摘要：

利用相关拼接技术测量表面面形 ,可以用较小的测量口径实现较大面积表面面形的测量 ,并同时保持高的测量精度、高的空间分辨率和系统的低成本。在这项技术中 ,模型的建立和求解至关重要。本文针对一般模型建立和求解过程中的问题 ,提出了基于最小二乘迭代的求解方法。该方法不但考虑了高度信息的变化 ,而且全面考虑了在一般模型求解中简化的 x,y方向上参数的影响。本文通过模拟仿真对求解方法进行了验证

引用

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