基于重复子向量的测试数据压缩算法

随着微电子技术的快速发展,系统芯片SoC的集成度越来越高,所需的测试数据量成几何级数增长。针对这一问题,本文提出了一种有效的测试数据压缩算法——基于重复子向量的测试数据压缩算法。该算法适用于多扫描链设计的IP芯核,应用过程中不需要芯核内部结构信息。该方法针对测试集中大量存在的重复子向量进行压缩,能够有效提高压缩效率。理论分析和实验数据表明,基于重复子向量的测试数据压缩算法相对于同类压缩方法能够大幅度提高压缩效率、降低测试成本。