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- [1] 单片机原理及接口技术实验.[M].朱定华编著;.清华大学出版社.2002,
智能电路板的闭环测试与故障诊断
被引：15
作者：
门瑞霞
石春和
机构：
[1] 石家庄军械工程学院
来源：
关键词：
智能电路板;
闭环测试与故障诊断;
串行通信;
波形再现;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN407 [测试和检验];
学科分类号：
摘要：
对于智能电路板(含有CPU的电路板)的测试与故障诊断是该领域的难点,本文介绍了对该种电路板进行测试与故障诊断的一种新方法,及其实现过程。
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