层状结构铁电材料热压择优取向度的X射线测定法

被引：19

作者：

郭常霖

吴毓琴

机构：

[1] 中国科学院上海硅酸盐研究所

来源：

关键词：

择优取向; 定义; 铁电陶瓷; 测定方法; 织构; 电子陶瓷; 衍射线; 层状结构; 赛格涅特电材料; 电介质; 铁电材料; 测定法;

D O I：

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学科分类号：

摘要：

本文提出了层状结构铁电陶瓷经热压后材料择优取向度的定义和X射线测定方法。只需测定任一或数条（00l）衍射线加压前后衍射强度比值,即可求出取向度。用含铋层优化合物pbBi4Ti4O15作为测定实例,证明了这一方法的适用性。

引用

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