小角X射线散射法测定溶胶平均界面厚度

被引：14

作者：

李志宏

巩雁军

吴东

孙予罕

王俊

柳义

董宝中

机构：

[1] 中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室!太原,中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室!太原,中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室!太原,中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室!太原,中国科学院高能

来源：

物理学报 | 2001年 / 06期

基金：

国家杰出青年科学基金;

关键词：

小角X射线散射; 溶胶; 平均界面厚度;

D O I：

暂无

中图分类号：

O648.1 [胶体];

学科分类号：

070305 [高分子化学与物理];

摘要：

溶胶界面层厚度通常是用Porod法对高角区负偏离的Porod曲线进行拟合求算 ,但本文研究表明还可通过分别测定Porod负偏离校正前后体系粒子的平均半径之差而获得平均界面厚度 .应用上述方法测定了在不同制备条件下制备的二氧化硅溶胶的平均界面厚度

引用

页码：1128 / 1131

页数：4

共 4 条

[1]

用小角X射线散射法研究溶胶结构 [J].

李志宏 ;

孙继红 ;

赵军平 ;

吴东 ;

孙予罕 ;

柳义 ;

生文君 ;

董宝中 .

物理学报, 2000, (04) :775-780

[2]

煤及半焦X射线衍射原子分布函数解析程序 [J].

李志宏 ;

吴东 ;

顾永达 .

煤炭转化, 1999, (03)

[3]

X射线小角散射测定粒度分布的一种数据处理解析程序 [J].

郭常霖 ;

黄月鸿 .

无机材料学报, 1991, (03) :336-342

[4]

小角X射线散射理论及应用.[M].孟昭富著;.吉林科学技术出版社.1996,

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