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数字电路测试生成的基本算法
被引：4
作者：
刘歆
熊有伦
机构：
[1] 华中科技大学
[2] 华中科技大学 武汉
[3] 武汉
来源：
关键词：
算法;
测试生成;
计算机辅助测试;
D O I：
10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2002.02.001
中图分类号：
TN791 [];
学科分类号：
080902 ;
摘要：
计算机辅助测试(CAT)工具有助于数字电路测试的自动化,这主要是由于使用了有效的算法和相应的软件结构。文章主要介绍了测试生成领域有重大影响的基本概念和算法。
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