常压下低折射率纳米多孔二氧化硅薄膜的制备

被引:9
作者
姚兰芳
沈军
吴广明
王珏
机构
[1] 同济大学波耳固体物理研究所
[2] 同济大学波耳固体物理研究所 上海 上海理工大学 物理系
[3] 上海
[4] 上海
关键词
低折射率薄膜; 溶胶-凝胶; 表面修饰; 常压;
D O I
暂无
中图分类号
TB43 [薄膜技术];
学科分类号
0805 ;
摘要
以正硅酸乙酯(TEOS)为有机醇盐前驱体,采用溶胶-凝胶技术,通过酸/碱二步法控制实验条件,结合低表面张力溶剂替换以及甲基非活性基团置换修饰、超声振荡等,在常压下成功地制备出折射率在1.11~1.27范围内的二氧化硅纳米多孔光学薄膜。制备过程中充分注意到稀释、老化、有机修饰表面、热处理和提拉条件对薄膜都有很大的影响,利用这些因素可以对该纳米薄膜的孔洞率、折射率进行控制,尤其是能制备低折射率薄膜,从而为该薄膜的应用开发奠定基础。采用椭偏仪测量薄膜的厚度和折射率,薄膜中高的孔洞率、低的折射率归结于最终干燥阶段中的弹性回跳。扫描电镜(SEM)观察发现修饰薄膜的表面形貌具有明显的多孔结构。耐磨实验表明所制备的薄膜有良好的机械性能。
引用
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共 4 条
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物理化学手册[M]. 上海科学技术出版社 , 姚允斌等编, 1985
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