时间相移显微干涉术用于微机电系统的尺寸表征

被引:6
作者
郭彤
胡春光
陈津平
傅星
胡小唐
机构
[1] 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室
关键词
纳米计量; 微机电系统; 相移干涉术; Hariharan算法; 台阶标准;
D O I
10.13494/j.npe.2008.010
中图分类号
TH703 [结构];
学科分类号
摘要
提出了将时间相移显微干涉测量方法用于微结构和器件的几何特性检测上.该方法速度快、无损、非接触、易在晶片级进行,具有亚微米级的水平分辨力,垂直分辨力在纳米量级.测量系统采用Mirau显微干涉物镜,利用高性能压电陶瓷物镜纳米定位器实现垂直方向的相移,并通过健壮的5帧Hariharan算法获取表面的相位信息.通过测量美国国家标准研究院(NIST)认证的标准台阶对系统进行了精度标定,并通过测量微谐振器和压力传感器微薄膜的几何尺寸说明了该方法作为测量和过程表征工具的功能.
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