未找到相关数据
模拟电路故障诊断测试点选择的新理论
被引：3
作者：
林争辉，武强
机构：
来源：
关键词：
模拟电路，可测试性，可诊断性，测试点选择;
D O I：
10.16183/j.cnki.jsjtu.1995.01.023
中图分类号：
TN470.7 [];
学科分类号：
摘要：
本文研究了模拟集成电路故障诊断的测试点的选择问题，给出了与网络内部结构有关的可诊断性必要条件和充分条件，同时，还给出了模拟电路故障诊断中测试点选择的策略．
引用
收藏
页码：165 / 170
页数：6
相关论文