用于特征X射线测厚仪的数据处理器电路设计

被引：3

作者：

唐伟

屈国普

赵越

机构：

[1] 南华大学核科学技术学院

来源：

湖南科技学院学报 | 2010年 / 31卷 / 08期

关键词：

数据处理器; 单片机; 测试;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP216.1 [];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 080402 ;

摘要：

利用特征X射线测厚是一种适用又方便的方法。数据处理器是测厚仪的重要部分之一,它具有数据采集和与电脑通信的功能。数据处理器包括脉冲整形和单片机系统两个模块;处理器工作正常,达到设计的要求。

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