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X射线荧光光谱法测定微克量稀土分量
被引:6
作者
:
刁桂年
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
冶金部天津地质调查所
刁桂年
陈丕通
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机构:
冶金部天津地质调查所
陈丕通
李锦勋
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机构:
冶金部天津地质调查所
李锦勋
孙乃茹
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机构:
冶金部天津地质调查所
孙乃茹
张秀羽
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机构:
冶金部天津地质调查所
张秀羽
机构
:
[1]
冶金部天津地质调查所
来源
:
冶金分析与测试(冶金分析分册)
|
1983年
/ 04期
关键词
:
稀土元素;
ⅢB族元素;
涤纶膜;
分量;
配分;
荧光光谱;
D O I
:
10.13228/j.issn.1000-7571.1983.04.013
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
<正>国内用X射线荧光光谱测定稀土分量已积累了相当多的经验。但是对微克量稀土分量的测定仍研究得不够,报导也不多。本文研究了一个灵敏的、精密的X光谱测定法,满意地测定了微克量稀土分量。
引用
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页码:224 / 226
页数:3
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