用于高温等离子体电子密度测量的摩尔偏折仪

被引：6

作者：

王琛

傅思祖

顾援

王世绩

杨军

机构：

[1] 上海光学精密机械研究所!上海-信箱

[2] 上海激光等离子体研究所!上海-信箱

来源：

强激光与粒子束 | 2000年 / 04期

关键词：

摩尔偏折仪; 摩尔条纹; 软X射线激光探针;

D O I：

暂无

中图分类号：

O536 [辐射与测量];

学科分类号：

070204 ;

摘要：

摩尔偏析测量术通过测量探针光束经过不均匀介质后光线的偏折来估算介质的折射率。基于这一理论，研制了实用的摩尔偏折仪，利用软Ｘ射线激光作为探针来探测高温高密等离子体的电子密度，结合软Ｘ射线激光实验做了初步的演示。

引用

页码：467 / 470

页数：4

共 5 条

[1]

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[2]

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[5]

Electron density measurements of high density plasma using soft X-ray laser interferometry. DaSilva L B,Barbee T W,Jr Cauble R,et al. Physical Review Letters . 1995

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