白光散斑法应用于结构内壁的变形和应变的测量

被引：1

作者：

刘宝琛

蔺书田

机构：

[1] 清华大学

来源：

实验力学 | 1986年 / 03期

关键词：

内壁; 散斑法; 散斑场; 表面裂纹; 表面缺陷; 散斑图; 白光散斑; 双曝光; 物体变形;

D O I：

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中图分类号：

学科分类号：

摘要：

本文用透射白光散斑法测量了化工容器接头(三通)模型内壁的位移场,与有限元计算结果符合得很好;同时测量了圆柱壳内表面裂纹的断裂力学参量,与有关结果进行了比较。

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页码：189 / 193

页数：5

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共 2 条

[1] AN AXIAL CRACK IN A PRESSURIZED CYLINDRICAL SHELL [J].

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INTERNATIONAL JOURNAL OF FRACTURE MECHANICS, 1965, 1 (02) :104-113

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