SOC测试访问机制

被引:5
作者
王红
邢建辉
杨士元
机构
[1] 清华大学自动化系
基金
国家自然科学基金重大项目;
关键词
SOC; IP核; 测试访问机制; 复用;
D O I
暂无
中图分类号
TN47 [大规模集成电路、超大规模集成电路];
学科分类号
080903 ; 1401 ;
摘要
以复用为基础,通过测试访问机制(TAM,TestAccessMechanism)实现对深嵌在SOC(SystemOnChip)内部的IP核(In鄄tellectualProperty,知识产权模块)的测试,是解决SOC测试的根本方法。本文将介绍现有的几类典型的测试访问机制:(1)直接测试访问,(2)基于总线的测试访问机制,(3)基于透明模型的访问机制等。分析它们的特点,探讨面临的主要问题。
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共 2 条
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