红外无损检测中缺陷边缘信息的自动提取

被引：2

作者：

任彬

机构：

[1] 安徽大学!合肥

来源：

无损检测 | 2000年 / 07期

关键词：

红外线检验; 信息处理; 焊接缺陷;

D O I：

暂无

中图分类号：

TG115.28 [无损探伤];

学科分类号：

080502 ;

摘要：

讨论二阶导数过零边缘检测方法。针对红外热图象的灰度特性 ,提出了窄范围二阶导数过零边缘检测用于焊接缺陷的边缘提取 ,获得了较好的效果

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页码：291 / 293+296 +296

页数：4

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