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K剖面法若干问题的探讨
被引：2
作者：
夏建平
机构：
[1] 南京地质学校
来源：
关键词：
剖面法;
比值法;
专用标志;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
本文对由ρS曲线演变的K剖面法参数曲线,在原理上和应用条件上提出了一些看法,以便在使用K剖面法解释电探资料时,取得较好的地质效果。
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