构造特定应用领域芯片验证环境的方法讨论

被引：7

作者：

杜慧敏

曾泽沧

韩俊刚

沈绪榜

机构：

[1] 华中科技大学图像研究所

[2] 西安邮电学院计算机系

[3] 骊山微电子公司武汉

来源：

关键词：

功能验证; BFM模型; 同步数字系列断言技术;

D O I：

10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2004.06.050

中图分类号：

TN407 [测试和检验];

学科分类号：

摘要：

由于IC设计复杂度日益增加,用于IC设计功能验证的时间占到整个设计周期的60%70%。我们认为针对某个领域的产品,开发可配置的验证环境是验证领域的一个方向,本文重点讨论开发特定应用领域芯片的验证环境方法,并介绍了根据该方法,我们开发的一个面向SDH领域系列芯片的验证环境。

引用

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