一种基于断层测量的反求工程

被引：15

作者：

刘振凯

陈剑虹

乔志林

丁玉成

卢秉恒

机构：

[1] 西安交通大学

[2] 西安金叶西工大软件有限公司

来源：

中国机械工程 | 2000年 / 04期

关键词：

反求工程; 测量; 断层图像; CAD;

D O I：

暂无

中图分类号：

TH74 [光学仪器];

学科分类号：

0803 ;

摘要：

断层测量技术能同时测量物体的表面和内腔尺寸 ,在反求工程中具有较好的应用前景。现有方法如 CT和 MRI的测量精度较低 ,且成本很高。针对上述问题 ,研究了一种基于层去图像法的断层测量系统 ,并给出了它在反求工程中的应用

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页数：6

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共 1 条

[1] 快速造型技术中的反求工程 [J].

张畅 ;

张祥林 ;

黄树槐 .

中国机械工程, 1997, (05) :60-62+119