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面粉中滑石粉的X射线检验法
被引：5
作者：
由健
刘成雁
林雪征
机构：
[1] 辽宁省分析科学研究院
来源：
关键词：
X—射线衍射;
面粉;
滑石粉;
D O I：
暂无
中图分类号：
TP274.51 [];
学科分类号：
摘要：
采用X—射线衍射分析法检测面粉中滑石粉等有害物质,是利用矿物质与面粉的分子结构不同的特点,利用X射线衍射法快速确定面粉中含有的矿物质结构,直接检测滑石粉等有害物质结构。此方法具有快速、直接、准确的特点,有利于对大批量面粉中滑石粉等有害物质的快速检测。
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