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专利质量评价指标及其在专利计量中的应用
被引:55
作者
:
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马廷灿
[
1
,
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]
李桂菊
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中国科学院国家科学图书馆武汉分馆
中国科学院武汉文献情报中心
中国科学院国家科学图书馆武汉分馆
李桂菊
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姜山
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冯瑞华
[
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机构
:
[1]
中国科学院国家科学图书馆武汉分馆
[2]
中国科学院武汉文献情报中心
来源
:
图书情报工作
|
2012年
/ 24期
关键词
:
专利计量;
质量评价;
指标;
分类体系;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
G306.3 [制度与管理];
学科分类号
:
摘要
:
通过对国内外专利质量评价相关研究的系统调研和梳理,提出一种新的专利质量评价指标分类体系,并选取稀土永磁这一重要的战略材料技术领域,对专利质量评价指标在专利计量中的用途进行实证研究。研究结果表明,有效地综合利用专利数量指标和质量评价指标,有助于对竞争区域、竞争机构等进行更加全面、更加深入的对比分析,快速遴选重点机构、重点专利,从而提升专利统计分析结果的深度和价值。
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页数:8
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