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用椭偏术研究与接触介质有关的贵金属的介电函数
被引:4
作者
:
许波
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机构:
复旦大学物理系
许波
陈良尧
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机构:
复旦大学物理系
陈良尧
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机构:
王昱
张荣君
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机构:
复旦大学物理系
张荣君
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机构:
郑卫民
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机构:
钱栋梁
郑玉祥
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机构:
复旦大学物理系
郑玉祥
杨月梅
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机构:
复旦大学物理系
杨月梅
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机构:
周仕明
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机构:
戴宁
丁扣宝
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机构:
复旦大学物理系
丁扣宝
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机构:
张秀淼
机构
:
[1]
复旦大学物理系
[2]
杭州大学电子工程系
来源
:
物理学报
|
1998年
/ 05期
基金
:
浙江省自然科学基金;
关键词
:
介电函数;
椭偏术;
衬底折射率;
带间跃迁;
底界面;
贵金属;
电子束蒸发;
棱镜底;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O482.4 [电学性质];
学科分类号
:
摘要
:
为了研究接触介质对金属光学性质的影响,实验中使用具有不同折射率的梯形棱镜作为衬底,将金和银蒸发到棱镜底部,用椭偏术分别测量了薄膜在金属 空气、金属 衬底界面的介电函数.结果表明:无论在Drude区,还是在带间跃迁区,金属 衬底界面处薄膜介电函数不仅与金属 空气界面处的测量值不同,而且随衬底折射率改变而改变.在固体接触条件下获得的结果与其他作者在液体接触条件下获得的结果相一致,但尚难被现有机制所解释
引用
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页码:132 / 140
页数:9
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