利用光纤空间M-Z干涉仪测量压电陶瓷相移系数

被引：1

作者：

张建亮

盛新志

吴重庆

机构：

[1] 北京交通大学光信息科学与技术研究所发光与光信息技术教育部重点实验室

来源：

压电与声光 | 2009年 / 31卷 / 01期

关键词：

压电陶瓷相位调制器; 相移系数; 光纤M-Z干涉仪;

D O I：

暂无

中图分类号：

TH744.3 [];

学科分类号：

0803 ;

摘要：

提出了一种利用光纤空间M-Z干涉仪测量压电陶瓷(PZT)相位调制器相移系数的新方法。光纤空间M-Z干涉仪的空间干涉场图与PZT的相移呈单值函数,可有效克服出射光强与相移呈多值函数的问题。设计了测试系统并应用该系统实际测量了一种PZT的相移系数,对结果进行了数字拟合,线性性好。与已有的理论计算和根据光强测量的方法比较,这种方法具有更高的准确性和重复性。PZT相位调制器是光纤干涉系统中的重要组成部分,这种测定相移系数的新方法,可广泛用于各种光纤干涉系统中。

引用

页码：47 / 49

页数：3

共 5 条

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