目的探讨高甘油三酯(TG)血症与胰岛素抵抗(IR)及糖代谢异常之间的关系。方法将71例高TG血症患者按照空腹血TG增高的程度分为高TGⅠ组和Ⅱ组,做葡萄糖耐量(OGTT)和胰岛素(Ins)释放试验,计算胰岛素敏感性指数(ISI),并以32例正常血TG者作对照。采用多因素回归分析TG与ISI之间的相关性。对45例高TG者作治疗前后的动态观察。结果高TGⅠ组血糖高峰出现在服糖后30分钟,与正常TG组时相一致,但高于后者(P<001),Ins高峰出现在服糖后60分钟,与高TGⅡ组时相一致,但低于高TGⅡ组(P<005);空腹血糖和Ins水平在高TGⅠ组高于正常TG组,但低于高TGⅡ组(P<001~0001);服糖后180分钟,高TGⅡ组血糖和Ins水平高于高TGⅠ组和正常TG组(P<005~0001),高TGⅠ组血糖与正常TG组无显著差异(P>005),但Ins水平高于正常TG组(P<0001)。正常TG组、高TGⅠ组和Ⅱ组糖代谢异常总发生率分别为62%、192%和250%。高TGⅠ组ISI低于正常TG组,但高于高TGⅡ组(P<001~0001)。多因素回归分析结果表明TG是影响ISI的