新生儿缺氧缺血性脑病研究现状及进展附视频

被引：90

作者：

蔡清

薛辛东

富建华

机构：

[1] 中国医科大学附属盛京医院儿科

来源：

中国实用儿科杂志 | 2009年 / 12期

关键词：

缺氧缺血性脑病; 磁共振成像; 新生儿;

D O I：

暂无

中图分类号：

R722.121 [];

学科分类号：

摘要：

<正>新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是指各种围生期窒息引起的部分或完全缺氧、脑血流减少或暂停所致的新生儿脑损伤。HIE是新生儿神经发育异常和死亡的主要原因之一,发病率为1/1000～2/1000活产足月儿,其中15%～20%在新生儿期死亡,存活者中的25%～30%留有永久性神经系统缺陷,如脑瘫、智力低下。近年来随着影像学的迅速

引用

页码：968 / 971

页数：4

共 6 条

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