基于三值神经网络的数字电路多故障测试生成算法

被引：6

作者：

韩之刚

高兰芝

宫海艳

常大徽

机构：

[1] 北华大学电气信息工程学院

来源：

煤矿机械 | 2008年 / 01期

关键词：

神经网络; 遗传算法; 约束网络; 能量函数;

D O I：

10.13436/j.mkjx.2008.01.098

中图分类号：

TP183 [人工神经网络与计算]; TN79 [数字电路];

学科分类号：

081104 ; 0812 ; 0835 ; 1405 ; 080902 ;

摘要：

针对数字电路中多故障测试生成较难的问题,提出了基于三值神经网络的数字电路多故障测试生成算法。该算法先把多故障转换成为单故障,再用三值神经网络的方法对单故障电路构造故障的约束网络,最后用遗传算法求解故障约束网络能量函数的最小值点获得原电路中多故障的测试矢量。在一些国际标准电路上的实验结果表明本算法的可行性。

引用

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