大豆叶面积的高光谱模型

被引：9

作者：

张柏 ^{[1
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宋开山 ^{[1
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张渊智 ^{[2
]}

王宗明 ^{[1
]}

段洪涛 ^{[1
]}

李方 ^{[1
]}

机构：

[1] 中国科学院东北地理与农业生态研究所

[2] 芬兰赫尔辛基科技大学空间技术中心

来源：

沈阳农业大学学报 | 2005年 / 04期

基金：

中国科学院知识创新工程重大项目;

关键词：

高光谱; 反射率; 大豆冠层; 叶面积指数;

D O I：

暂无

中图分类号：

S565.1 [大豆];

学科分类号：

摘要：

以ASD FieldSpec-Vnir光谱仪实测不同生长季大豆的冠层反射率,同期采集对应大豆LAI,然后逐波段分析冠层光谱反射率、导数光谱与大豆LAI的相关关系;并采用单变量线性回归逐波段分析了冠层光谱反射率、导数光谱与大豆LAI确定性系数随波长的变化趋势,建立了以近红外与可见光波段冠层光谱反射率的比值植被指数RVI与大豆LAI的高光谱遥感估算模型。结果表明,冠层光谱反射率在350￣680nm、760￣1050nm波谱区与大豆LAI相关性较大,而在红边区680￣760nm的相关性变化较大;导数光谱在红边区与大豆LAI相关程度高。通RVI方式建立的遥感估算模型能较为准确估算大豆LAI,通过对红外与蓝波段建立的RVI指数与大豆LAI的回归模型,表明其预测大豆LAI的能力较好,有进一步研究的必要;通过对比发现,神经网络模型可以大大提升高光谱反演大豆LAI的水平,模型的确定系数R2为0.9661,而总均方根误差RMSE仅为0.446m2.m-2。

引用

页码：396 / 400

页数：5

共 13 条

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