利用高光谱成像技术和多变量校正方法检测苹果的硬度(英文)

被引：23

作者：

赵杰文 ^{[1
]}

陈全胜 ^{[1
]}

Saritporn Vittayapadung ^{[1
]}

Sumpun Chaitep ^{[2
]}

机构：

[1] 江苏大学食品与生物工程学院

[2] Faculty of Engineering,Chiang Mai

来源：

农业工程学报 | 2009年 / 25卷 / 11期

关键词：

光谱分析; 图像处理; 水果; 硬度; 检测;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP274.4 [];

学科分类号：

摘要：

高光谱图像集图像信息与光谱信息于一身,应用于农产品品质无损检测领域。该研究尝试利用高光谱图像技术结合多变量校正方法检测苹果硬度的可行性。试验通过获取的高光谱图像中提取有效的光谱信息来建立预测苹果硬度的预测模型。在建立模型过程中,偏最小二乘(PLS)和支持向量回归(SVR)两种多变量校正方法被比较,结果表明在785.11～872.45nm范围内,SVR模型的性能优于PLS模型,模型对硬度预测结果的相关系数为0.6808。试验结果表明高光谱图像技术可以被用来检测苹果的硬度。

引用

页码：226 / 231

页数：6

共 4 条

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