无损检测可靠性与寿命控制方法

提出一种测定缺陷检出概率曲线的方法，成功地解决了传统方法无法解决的检出频率波动性和非单调性问题，给出了缺陷检出概率置信下限公式和ＰＯＤ／ＣＬ裂纹尺寸公式。并且提出控制寿命的新概念，给出了最佳检查周期和最佳独立检测次数方法，该方法既可以有效地控制裂纹漏检概率，又可以控制结构的裂纹扩展寿命和检查周期，从而可对结构进行概率损伤容限设计。