用热表面电离质谱法测量高电离电位元素锑同位素丰度

被引：1

作者：

王军

赵墨田

机构：

[1] 国家标准物质研究中心

来源：

关键词：

电离电位; 同位素丰度; 热表面电离; 质谱法; 质谱测定法; 离子流; 电离温度; 控制样品;

D O I：

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摘要：

本文叙述用热电离质谱计对高电离电位元素锑进行测量时,选用硅胶和磷酸作为增强剂,实现了锑的热电离。通过严格控制样品蒸发和电离温度,克服137Ba的干扰,取得了满意的测量结果。

引用

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