介孔氧化硅的分形特征

被引：14

作者：

李志宏

巩雁军

吴东

孙予罕

洪新国

吴忠华

吴自玉

机构：

[1] 中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室,中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室,中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室,中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室,中国科学院高能物理研究所同步辐射室,中国科学院高能物理研究所同步辐射室,中国科学院高能物理研究所同步辐射室太原,太原太原师范学院化学系太原,太原,太原,北京,北京,北京

来源：

核技术 | 2004年 / 01期

关键词：

介孔氧化硅; 分形; 小角X射线散射;

D O I：

暂无

中图分类号：

TB383 [特种结构材料];

学科分类号：

080906 [电磁信息功能材料与结构];

摘要：

介孔氧化硅广泛应用于催化、吸附、分离中。将介孔氧化硅进行有机官能化则可改善其孔道表面性能。应用同步辐射小角X射线散射(SAXS)研究了纯介孔氧化硅和有机官能化介孔氧化硅的分形特征,结果表明它们均具有两种分形结构,即表面分形和孔分形。同时探讨了分形维数随样品制备条件的变化规律。

引用

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