频谱分析仪测量相位噪声及测量不确定度分析

被引：7

作者：

刘严严 ^{[1
]}

徐世伟 ^{[2
]}

宣宗强 ^{[1
]}

机构：

[1] 西安电子科技大学机电工程学院

[2] 西安电子科技大学微电子学院

来源：

电子测量技术 | 2006年 / 05期

关键词：

相位噪声; 频谱分析仪; 测量不确定度; 评定;

D O I：

10.19651/j.cnki.emt.2006.05.013

中图分类号：

TM935.21 [频谱分析测量及仪器];

学科分类号：

080802 ;

摘要：

相位噪声是电子测量中的一个重要指标,相噪指标的好坏直接影响着整个系统的性能。测试相位噪声的方法有几种,然而,每种测试方法都有各自的优缺点。因此,根据实际的需要来选择适当的测试方法就尤为重要。本文主要是通过实验来讨论用频谱分析来测量相位噪声的方法,并对其测量的结果,应用不确定度理论给出了相应的测量不确定度的分析。

引用

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