在电子散斑干涉中利用反相位法进行三维变形测量

被引：6

作者：

孙平 ^{[1
]}

李爱华 ^{[2
]}

张丽 ^{[1
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陶春先 ^{[1
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王晓凤 ^{[1
]}

韩青 ^{[1
]}

机构：

[1] 山东师范大学物理与电子科学学院

[2] 山东警察学院侦察系

来源：

光学学报 | 2006年 / 02期

关键词：

光学测量; 电子散斑干涉; 相移; 相位计算; 三维位移;

D O I：

暂无

中图分类号：

O436.1 [干涉与衍射];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

提出一种可将离面位移与面内位移分离的三维位移计算方法。在双光束电子散斑干涉系统中增加一路参考光,使这一路参考光为两光束所共用。两束光各自独立地对变形物体进行测量,分别计算相位分布,并对其中之一进行反相位计算。理论分析表明,对二路检测光所得到的相位进行相减运算,就能够较好地减少电子噪声的影响,分离面内位移场与离面位移,实现物体变形的三维测量。介绍该方法的原理,并利用典型实验证实了该方法的可行性。

引用

页码：193 / 196

页数：4

共 5 条

[1] 三维相移电子散斑干涉中的位移场分离研究 [J].