220kVGISSF6CT气室闪络分析

被引：9

作者：

裘吟君 ^{[1
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刘岩 ^{[1
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姜宏仁 ^{[1
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姚唯建 ^{[2
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周永言 ^{[2
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陈锦清 ^{[2
]}

钱艺华 ^{[2
]}

机构：

[1] 海南电力试验研究所

[2] 广东电力试验研究所

来源：

关键词：

SF6; 分析; 腐蚀; 标准;

D O I：

10.13648/j.cnki.issn1674-0629.2007.02.011

中图分类号：

TM595 [全封闭组合电器];

学科分类号：

摘要：

通过常规与非常规化学、电气试验手段,对GISSF6CT气室中闪络故障前后固体粉末、气体成分及CT气室内的化工材料进行排查试验,证明频繁发生闪络故障的内置式CT气室内存在丁腈橡胶板,其腐蚀性硫与气室内触头等镀银件反应形成硫化银,最终形成导电通道,引起CT气室闪络击穿。

引用

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