液晶测试信号源的设计与实现

被引：9

作者：

李拥军 ^{[1
]}

于涛 ^{[1
]}

侯文卓 ^{[2
]}

孙铁铮 ^{[1
]}

机构：

[1] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所北方液晶工程研究开发中心

[2] 吉林大学机械学院

来源：

液晶与显示 | 2006年 / 01期

关键词：

TFT模块; 驱动信号; 点缺陷; 线缺陷; CPLD; 模拟开关;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN141.9 [液晶显示器件];

学科分类号：

080901 ;

摘要：

根据目前TFT模块的生产现状和需求,依据TFT模块的驱动和测试原理,以及TFT模块的线缺陷和点缺陷的产生原因,设计并实现了一种由MCU、CPLD和模拟多路开关组成的简易测试信号源,该信号源可提供Gate Odd,Gate Even,Data,Vgg和Vcom5路信号,此5路信号无论在频率、占空比、幅值还是延时上都满足对4·6cm(1.8in),128×160像素液晶模块的线缺陷和点缺陷的测试要求,且测试效果良好。

引用

页码：73 / 76

页数：4

共 4 条

[1] 基于FPGA的液晶显示驱动IP核的实现 [J].