基于专利信息分析的技术生命周期判断方法

被引：106

作者：

李春燕

机构：

[1] 江苏省科学技术情报研究所

来源：

现代情报 | 2012年 / 32卷 / 02期

关键词：

技术生命周期; 专利分析; 专利指标; S曲线;

D O I：

暂无

中图分类号：

G306 [专利研究];

学科分类号：

1201 ; 1204 ;

摘要：

本文从专利信息特征出发研究技术生命周期的判断方法,归纳总结出了5种典型方法,分别为:S曲线法、专利指标法、相对增长率法、技术生命周期图法、TCT计算法。论文给出了具体计算公式及详细的判断方法。最后对5种判断方法进行评价,指出各自的适用条件。论文对技术生命周期判断方法的归纳全面而实用,为研究者根据实际情况灵活选用不同判断方法提供了理论参考。

引用

页码：98 / 101

页数：4

共 5 条

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