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局部放电特性的研究和测量技术的发展
被引:1
作者
:
邱昌容
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
西安交通大学
邱昌容
成庆生
论文数:
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引用数:
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h-index:
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机构:
西安交通大学
成庆生
机构
:
[1]
西安交通大学
[2]
上海电动工具研究所
来源
:
电工技术学报
|
1986年
/ 02期
关键词
:
局部放电;
绝缘体;
绝缘破坏;
高压设备;
放电特性;
脉冲电流法;
光测法;
放电脉冲;
电树枝;
声测法;
放电机理;
放电信号;
测量技术;
测定技术;
D O I
:
10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.1986.02.010
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
本文综述了1982年香山会议以来有关局部放电研究的新发展,这包括不同类型局部放电的机理、局部放电与绝缘破坏的关系,以及应用新测试技术测量局部放电的综合参数,测定放电位置以及压抑干扰等。这对提高高压设备质量、完善绝缘性能的试验标准以及保证安全运行都起积极作用,并在综述的基础上提出了今后要研究的问题。
引用
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页码:44 / 50
页数:7
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