远场暗室条件下圆极化天线增益不同测试方法分析研究

被引:9
作者
俞建
赵杰
机构
[1] 中国电子科技集团公司第三十六研究所
关键词
圆极化天线; 不同测试方法;
D O I
10.19652/j.cnki.femt.2014.09.009
中图分类号
TN821.1 [];
学科分类号
摘要
圆极化天线是天线的一种重要形式,特别是在航天领域。其测试方法的选择对天线设计验证也较为重要。基于圆极化可分解理论为基础,在大型远场微波暗室测试条件下,对2种圆极化天线的增益测试方法进行实际验证,结合某S频段天线做了测试,并详细叙述了具体的测试方法,研究实际测试过程的区别以及为此而产生的测试结果的准确性。实际结果表明,在某种条件下,2种方法确实都能应用于圆极化天线的实际测试需要。
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