基于形态学与支持向量机的虹膜坑洞纹理检测

坑洞纹理是虹膜表面上一种重要的特征纹理。对可见光虹膜图像而言,如何能不受睫毛、眼睑、光斑及光照不均匀等干扰因素的影响,并能快速、准确地提取出该特征纹理仍然是目前一个亟待解决的难题。提出一种基于形态学和支持向量机(SVM)的可见光虹膜坑洞纹理检测方法。首先使用灰度形态学和二值形态学相结合的方法提取出所有目标纹理;然后使用区域生长方法定位所有目标纹理并计算各个目标纹理的特征向量;最后再使用SVM和定义约束条件的方法提取出最终的坑洞纹理。通过实验证明:该方法能较好地克服光斑等干扰的影响,对坑洞状纹理的检出率高于其他同类方法。