氢化物-无色散原子荧光法测定地质样品中微量锡

被引：17

作者：

王升章

郭小伟

机构：

[1] 西北冶金地质研究所

来源：

关键词：

氢化物; 氢化合物; 原子荧光; 微量锡; 地质样品; 色散; 硼氢化钾;

D O I：

暂无

中图分类号：

O657.31 [原子发射光谱分析法];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

氢化物无色散原子荧光法具有很低的检出限,对地质样品中微量锡的测定特别适用。本文研完了测定锡的最佳条件,对各共存元素的干扰及其消除进行了试验,提出函了克服干扰元素的抑制剂。并拟定适合于一般地质样品中微量锡的分析方法,下限可测定至0.0001%,准确度和精密度(CV=6.3%)能满足地质工作的要求。

引用

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