Arrhenius方程应用新方法研究

被引：34

作者：

马卫东

吕长志

李志国

郭春生

郭敏

李颖

机构：

[1] 北京工业大学电子信息与控制工程学院可靠性研究室

来源：

微电子学 | 2011年 / 41卷 / 04期

关键词：

Arrhenius方程; 恒定电应力温度斜坡法; 激活能;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN606 [测试、调整及设备];

学科分类号：

080508 [光电信息材料与器件];

摘要：

提出了一种快速评价电子元器件的新方法,该方法具有快速、准确、成本低、效率高等优点。利用Arrhenius方程,能快速准确地确定元器件退化的失效敏感参数和退化机理;可对单样品求出与失效机理相关的失效激活能和寿命;通过多样品试验,可得到寿命分布、寿命加速特性和失效率等可靠性参数。以DC/DC电源变换器和高频小功率管3DG130为例,通过实验与现场数据的对比,证明了新方法的正确性和有效性。该方法适用于失效率优于10-7/h(λ<10-7/h)的高可靠性产品的定量评价。

引用

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