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无损检测桃子电特性的试验研究
被引:39
作者
:
胥芳
论文数:
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0
机构:
浙江农业大学
胥芳
张立彬
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机构:
浙江农业大学
张立彬
周国君
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机构:
浙江农业大学
周国君
贾灿纯
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机构:
浙江农业大学
贾灿纯
机构
:
[1]
浙江农业大学
[2]
浙江工业大学
[3]
意大利农业机械化研究所
来源
:
农业工程学报
|
1997年
/ 01期
基金
:
浙江省自然科学基金;
关键词
:
桃子,电特性,无损检测;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
S662.09 [];
学科分类号
:
摘要
:
利用智能LCR测量仪和平板电极系统,用无损检测方法测定了桃子在储藏过程中电特性的变化。结果表明:在12Hz~100kHz的频段内,桃子的最佳测试频段为15kHz以下,此时桃子随着储藏时间的增加,等效阻抗增大而相对介电常数和介质损耗因数减小;当桃子开始腐烂时,电特性数值出现了一个大的反复
引用
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页码:208 / 211
页数:4
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电气绝缘测试技术[M]. 上海科学技术出版社 , 顾文郁编著, 1987
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