少量树木年轮样品的X射线荧光光谱分析

采用活体采样技术,对少量树木年轮样品的制备和测定方法进行了研究。使用X射线荧光光谱和透空测量方式,对树木年轮中C l、Si、Na、A l、Mg、P、S、Ca、K、Ti、Mn、Fe、Zn、Cu、Pb、Rb、Sr、Ba等18种元素进行了分析测定,结果与其他方法相符,部分元素的精密度（RSD,n=10）为0.2%15%。该法效果比较好,同时保证了少量树木年轮样品无损失、无化学组成变化,为后续的等离子体原子发射光谱和质谱联测创造了条件。